二箱式芯片冷热冲击测试箱

二箱式芯片冷热冲击测试箱能模拟高温与低温之间的瞬间变化环境。从而判断产品的可靠性及稳定性能等参数是否合格。将提供给您预测和改进产品的质量和可靠性依据。用于检测电子、汽车、橡胶、塑胶、航太科技、科技及通信器材等产品在反复冷热变化下的抵抗能力。

二箱式芯片冷热冲击测试箱符合标准
GJB360.7- 87温度冲击试验;
GJB367.2-87 405温度冲击试验; .
SJ/T10187-91 Y73系列温度变化试验箱--- -箱式;
SJ/T10186-91 Y73系列温度变化试验箱--二箱式;
满足标准IEC68-2-14试验方法N温度变化;
GB/T 2424.13-2002试验方法温度变化试验导则;
GB/T 2423.22-2002温度变化;

1、三箱设备区分为：高温区、低温区、测试区三部分，测试产品置于测试区，冲击时高温区或低温区的温度冲入测试区进行 冲击，测试产品为静态式。相对于两箱多了常温功能。

2、釆用触控式图控操作介面，操作筒易。

3、冲击方式应用风路切换方式将温度导入测试区，做冷热冲击测试。

4、高温冲击或低温冲击时，最大时间可达999H,最大循环周期可达9999次。

5、系统可作自动循环衙擎或手动选择性冲击并可设定二区或三区冲击及冷冲热冲启始。

6、冷却采二元冷冻系统，降温效果快速，冷却方式为水冷式。