武汉环试高温老化试验箱

武汉环试高温老化试验箱的参数详情如下：
★型号/规格：
★型 号：LQ-GD-80；LQ-GD-100；LQ-GD-150；LQ-GD-225；LQ-GD-408；LQ-GD-800；LQ-GD-1000
★试验机内部尺寸(宽×高×长)cm  40×50×40；50×60×50；50×75×60；60×85×80；100×100×80；100×100×100；
★试验机外部尺寸(宽×高×长)cm 以实际尺寸为标准，每个型号的报价方案上都会有对应的外箱尺寸
★试验机内外部材质均采用SUS304优质不锈钢：具有良好的低温强度，耐蚀性、耐热性和机械特性；冲压、弯曲等热加工性好，无热处理硬化现象（无磁性，使用温度-196℃～800℃）
★本试验机有多个温度范围可以选择：0℃~-150℃；-20℃~-150℃；-40℃~-150℃；-60℃~-150℃；-70℃~-150℃
★波动度：±0.5℃
★均匀度：±2℃
★控制器方式：微电脑PID控温
★试验机内部摆放样品的置物架子：标配两层，多层下单时注明。
★整机使用电源：单相220V或者三相380V，功率根据尺寸大小及温度范围而定。
★*的BTC平衡调温方式，稳定平衡的加热能力，调节理想温度环境，进行高精度高稳定的温度控制。
★具有随温度的设定数值自动选择运转制冷回路的功能，操作简单，使用方便。
★测试机内设有观察窗，照明灯，可随时观察样品在试验机内的测试情况的变化。
执行与满足标准
GB/T5170.2-2008 电工电子产品环境试验设备检验方法 温度试验设备
GB/T2423.1-2008电工电子产品基本环境试验规程 试验A：低温试验方法；
GB/T2423.2-2008电工电子产品基本环境试验规程 试验B：高温试验方法；
GB/T 2423.22-2002电工电子产品基本环境试验规程  试验N 温度变化试验方法；
GB/T10592-2008《高、低温试验箱技术条件》；
GB/T 10589-2008《低温试验箱技术条件》；。
MIL-STD810D方法502.2 美国标准；
IEC 68-2-1-1990 中文名称: 基本环境试验规程.第2部分:第1节.试验.试验A:低温试验
EC68-2-14_试验方法N_温度变化

武汉环试高温老化试验箱由四运行系统组成：
（一）加热系统：鳍片散热管形镍铬合金不锈钢电加热丝。加热、制冷、循环、除湿、加湿系统*独立可提高效率，降低测试成本，增长寿命，减低故障率。
（二）制冷系统：高低温气候试验箱制冷主要配置采用法国泰康的全封闭压缩机或（或德国比泽尔的半封闭压缩机）；冷冻系统采用一级或二元复叠式低温回路系统设计。
（三）风路循环系统：采用多翼式离心送风机强力送风循环，避免任何死角，可使试验箱实验区域的温度分布均匀，波动度小。风路循环出风回风设计，风压、风速均符合测试标准，并可使开门瞬间温度回稳时间快。采用可上、下、左、右调整导风板，以保证温、湿度均匀分布。
（三）控制系统：智能型温度可程式控制器以液晶屏方式显示温度值，有加热器、传感器故障指示、变送功能、带有RS/232或RS/485通讯接口可供远程监控，用户可通过触屏编程自行设定系统参数。